柔性氧化石墨烯阻变存储器制备及其机理研究-毕业论文(良查重百分比: 8).doc
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1、中国石油大学(北京)现代远程教育中国石油大学(北京)现代远程教育毕毕 业业 设设 计(论文)计(论文)柔性氧化石墨烯阻变存储器制备及其机理研究姓 名:学 号:性 别:专 业:化学工程与工艺批 次:学习中心:指导教师:2022 年 3 月 31 日中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)柔性氧化石墨烯阻变存储器制备及其机理研究摘摘 要要随着时代的不断进步与发展,柔性电子成为了近年来的热门研究方向之一,可用于包括折叠电路、电子皮肤、皮肤传感器等各个方面。在存储器方面,由于传统的存储器写入和读出速度较慢,人们近年来正研究某种技术取而代之。由于简
2、单的结构、低耗电、快速读写速度、长数据保持时间和尺寸缩小的巨大可能,电阻可变存储器(RRAM)受到人们的关注。本文主要研究了柔性氧化石墨烯阻变存储器(GO RRAM)。基于精通电阻可变存储器操作原理的论文,掌握了石墨烯氧化薄膜的制备方法,掌握了存储器装置单体测试方法和柔性器件的测试方法。关键词关键词:柔性电子;氧化石墨烯;阻变存储器;机理研究中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)目录目录第一章 绪论 .11.1 研究的目的及意义 .11.2 国内外研究现状 .21.3 本文结构.4第二章 柔性 GO RRAM 的原理 .62.1 GO
3、材料的原理研究.62.2 柔性 GO RRAM 的性能参数.62.2.1 随机存取器件的窗口数值:.62.2.2 工作限制电流 .62.2.3 器件的柔性 .72.3 RRAM 的阻变机制.72.3.1 基于氧离子扩散的开关.72.3.2 基于金属丝的开关.82.4 RRAM 的设备特性.9第三章 柔性 GO RRAM 的制备 .113.1 制备设备.113.2 AL/GO/PT RRAM 的制作.123.3 氧化石墨烯薄膜的表征 .133.3.1 拉曼光谱方法 .143.3.2 XPS 图谱方法 .15第四章 柔性 GO RRAM 特性及其机理.174.1 GO RRAM 的电学性能.174
4、.2 GO RRAM 的柔性性能.20中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)第五章 结论 .22参考文献.23致 谢.25中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)第第 1 章章 绪论绪论1.1 研究的目的及意义研究的目的及意义柔性的电子技术是在柔软的基板上制造有机/无机材料电子器件的新电子技术。这项技术可能会给电子技术带来革命。而且,它受到了广泛的关注,在世界上急速发展。所以柔性电子这个研究方向在近几年来非常受大家欢迎。在便携式设备、皮肤电子、折叠电路等方面有着很好的发展前景。对于
5、存储器,传统的闪存具有高功耗(高电压下的热载流子的注入)、慢写入和读出速度以及低消除时间,因此需要研究能够代替它的技术。目前的非易失性存储器技术,即闪存,是基于电荷存储的,这种技术正在迅速达到其物理极限。所以,为了下一代具有不挥发性内存的随机存取存储器器件,正在研究不基于电荷工作的纳米随机存取器件,例如铁电随机存取器件(FeRAM)、磁性随机存取器件(MRAM)、多指令流多数据流并行机中的共享随机存取器件(PRAM)和电阻随机存取器件(RRAM)。下面表 1.1 为几种常见类型的存储器的几个参数的对比。表 1.1 常见类型的存储器的参数对比SRAMDRAMFLASHMRAMPRAMRRAMNo
6、n-VolatilityNoNoYesYesYesYesCe11 Size(F2)largesmal1smal1MediumSma11Sma11Read Time1-100 ns30 ns3-15 ns3-20 ns10-100 ns10-100nsWrite/Erase Time 1-100 ns 50 ns/50 ns l ls/10 ms3-20 ns10 ns/50 ns l0 ns/10 nsEndurance10161016105101510121015Write PowerLowLowHighMid-highLowLow这几年来,新的非易失性存储器技术被很多人研究。作为最有希望中
7、国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)中国石油大学(北京)现代远程教育毕业设计(论文)的技术之一,电阻随机存取存储器(RRAM)由于简单的结构、低耗电、快速读写速度、长数据保持时间和尺寸缩小的巨大可能(与运行的原理有关)而受到瞩目。1.2 国内外研究现状国内外研究现状电阻可变型随机存取存储器的简单构造是电极/介质/电极的三层结构。它的工作原理是,薄膜材料中电阻的大小在通过相应电压的情况下可以在高电阻值(HRS)和低电阻值(LRS)之间自由的转变,进而达到存储的目的,而且关闭电压,材料的电阻值可以保持不变,即不会蒸发,具有非易失性,如图 1.1 所示。实际上,在 19 世纪 70 年代初
8、,Simmons 和 Verderber 便发现了 SiO 材料的电阻值变化的情况。然而,知道到 21 世纪初,由于硅系统存储器的大小已接近原始极限,所以难以提高记忆密度,这时,大家才恍然大悟发现电阻随相应电压变化这一现象可以用来制作存储器,而且因为该现象制备出的 RRAM 装置隐藏这高密度存储的可能性,所以大家都将研究的重点放在了 RRAM 上。经过近 20 年的发展,大家已经在包括两个成分和更多成分的金属氧化物材料、硫属化物材料、有机材料和一些有机无机杂化材料等的各种材料系统中发现了电阻随相应电压发生变化的现象。然而,没有能够完全满足应用要求的材料,导致实际的 RRAM 产品的导入延迟。其
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